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四探針測試儀|SZT-2|

四探針測試儀（SZT-2）主要說明：

1．主機采用*電路設計，所測數(shù)值更精、更快、更準（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。

2．屏幕采用液晶顯示（一代為只有數(shù)碼管顯示）。

3．匹配電腦接口及軟件，讓操作簡便明了化（可直接連接電腦，電腦進行自動運算根據(jù)輸入厚度，自動比照并修正系數(shù)，使被測結(jié)果更精確，數(shù)據(jù)可儲藏或刪除，利于使用方保存記錄）。

4．二代的測試架采用自動傳感裝置，接近被測物體時實行自動減速，避免了被測物體的損耗和探頭的磨損（于國內(nèi)市場上任何一款同類產(chǎn)品的測試架，老一代為手動）。

5．本儀器電壓檔為自動調(diào)整,電流檔為半自動.不清楚被測物體阻值時,可按菜單先選擇100MA電流檔進行自動搜索（電流可由高至低自動搜索,不能由低向高搜索）,當選擇好電流檔后,電壓會自動進行調(diào)整.

6. 本儀器測試電阻、電阻率、方塊電阻時，標準系數(shù)為機器自帶自調(diào)，無需另外手工調(diào)整，省去了原儀器的諸多麻煩。

7．測試探頭為鎢針，市場上多為高速鋼針。

8．每次測量均有內(nèi)置計算機自動進行溫度補償及電壓電流矯正。

9．整機測量標準不確定度：≤ 2%（國內(nèi)其它廠家誤差為≤ 5% ）

技術參數(shù)：
1． 測量范圍：
方塊電阻：10的-4次方 ~10的5次方Ω/□
電阻率：10的-3次方~10的5 次方Ω-cm
電阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω
2． 可測半導體材料尺寸
直徑：5mm-130cm
長度：≤400mm
3． 測量方法：
軸向、斷面均可
4． 顯示方式：41/2,數(shù)顯,極性、過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示。
5． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數(shù)±1個字
6.四探針測試探頭
（1） 探針間距:1mm
（2） 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0%
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W

8.外型尺寸:260×160×215mm

四探針測試儀|SZT-2|